镀层测厚仪
仪器介绍
X荧光测厚仪 EXF-10B是集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
可以满足微小测试点的需求，可达0.2mm
高精度移动平台可精确定位测试点.
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
X荧光测厚仪 技术指标
型号：EXF-10B
元素分析范围从铝(Al)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析检出限可达2ppm，最薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
工作温度：15℃至30℃ 湿度：≤80%
电源: 交流220V±5V
外型尺寸：670mm×470mm×370mm
测量仓：520mm×370mm×105mm
重量：45kg
X荧光测厚仪 标准配置
精密二维移动样品平台。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机
彩色打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
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